蔡司Atlas 5 -掌握多尺度挑战的新方法
出版时间:2016年5月23日
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作者/来源:蔡司
蔡司推出了一种集成解决方案,用于获取和分析光、电子和x射线显微镜中的多尺度和多模态图像
蔡司Atlas 5是一个强大的硬件和软件包,扩展了蔡司扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)的能力。ZEISS Atlas 5简化了自动图像采集,让用户受益于它的高效导航和任何来源的图像的相关性,包括光学和x射线显微镜。
充分利用高通量和自动化大面积成像,用户可以在没有操作人员监督的情况下,连续数小时甚至数天获取大量2D或3D纳米级电子显微镜(EM)图像。先进的预设和可定制的协议允许产生一致和可重复的结果。
蔡司Atlas 5相关工作空间使它很容易将来自多个来源的图像汇集在一起:从样品的宏观全景放大到纳米尺度的细节。以示例为中心的工作区允许用户构建无缝的多模式、多尺度的示例图像。
蔡司Atlas 5新颖的图形用户界面概念使所有样本的调查变得容易。无论是简单的一步任务还是复合实验,用户都可以根据实验的复杂程度来设计工作流程。一个复杂的工作流环境可以指导用户从自动获取的设置到后处理和定制导出,并一直到分析。
蔡司Atlas 5的模块化结构允许用户根据他们在材料或生命科学应用中的日常任务进行定制。该包附带多个模块:高级工具包,3D断层扫描,阵列断层扫描或先进的纳米图案和可视化引擎(NPVE先进)。