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Ansys文摘发布NMERIM2TM二代AR光谱

Ansys工具自豪地宣布Namir2TM平台,这是第二代AFM光谱分析平台关键突破是 NMERIR2操作顶端光照的能力,消除先制ZnSe棱镜样本需求,并增强对多样样本的测量能力FM-IR测量现已在包括半导体设备、薄膜、纳米合成物、数据存储样本、矿产品、组织分块和聚合物混合物等各种样本上展示纳米IR2提供新的共振增强模式,大大提高技术敏感度并使得AFM-IR测量厚度220m样本

客户说需要简化样本准备 和测量样本原位能力services工程主管NamIR2项目组组长Doug Gotthard博士Curt Marcott,Anasys科学顾问和应用光谱分析学会前主席补充道,“NamiIR2大为扩展AFM-IR应用范围,因为消除棱镜样本准备将进一步提高技术成功解决工业问题和为学术界纳米化分析提供强工具Craig Prater补充道,“新NAMIR2综合新专利技术,提高敏感度使用新式“共振增强模式”,我们展示出从聚合胶片中获取高质量IR光谱的能力,薄度达20纳米

纳米IR2系统将强全功能原子显微镜的纳米空间分辨率与红外光谱非对称化学特征识别能力相结合光谱显示散装FTIR光谱极相关,可输入标准FTIR数据库样本分辨纳米IR2平台用户可以通过AFM快速检测样本区域,然后快速获取选定区域高分辨率化学光谱或以固定波长获取高分辨率化学图像机械和热性能,如局部热转换,也可以用纳米分辨率绘制

纳米IR2系统是几百万美元政府和私人投资的结果Ansys工具从NIST高级技术方案、国家科学基金会、能源部和国防部联合技术局获得研究赠款技术受多重美国保护外国专利

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