Anasys讨论2013年PittconAFM-IR纳米光谱产品组的重大改进
快速引入纳米结构化材料继续驱动纳米级定性技术,以提供及时、精确、易用分析方法Anasys设计突破性获奖产品测量纳米级材料属性并同时提供高质量AFM成像
包括纳米级热属性测量的纳米TATM和将纳米级IR测量领域屏障推向新分辨率水平的纳米IRTM平台
用户回馈引出数项新能力加入系统,在分辨率和工具性能方面产生更大效益举例说,新IR源大激光调频900-4000cm-1用户现在可以更容易访问关键指纹机制新建源小线宽提供光谱分辨率提高并更好地匹配FTIR数据库
光量级联激光器加法IR源码提高敏感度QCL增强共振敏感度10x提高,使AFM-IR技术能对厚度10Nm和以下薄膜工作
动态纳米机光谱学和映射法使纳米IR除完全性能AFM外还被多功能AFM使用,完成由化学、机械和热分析构成的材料定性套件功能包括引入Lorentz感应成像领域广带纳米动态机械分光片进一步加强多参数报告纳米级材料属性
其它增强包括对齐优化、多区域光谱、自动吸收图像序列、开机模式AFM和热流补偿用户提高工具生产率并简化操作并减少培训需求
科学课程将再次包括使用NMERR新聚合应用演示光灯解决方案Curtis Marcott博士谈论聚合物的纳米级定性,Anasys的Michael Lo博士则介绍纳米级未知多层化学识别数据
无法访问Pittcon系统者全套细节与可下载应用论文和产品表Anasys网站