由数字Surf高山技术平台供电

自最近启动ToscaTM400原子显微镜后,顶级科学设备制造公司Anton Paar今天宣布启动ToscaTM分析软件,该软件基于数字Surf表层分析技术

专为工业用户设计ToscaTM400带ToscaTM控制软件操作AFM添加新的ToscaTM分析软件和用户现在有全解法在各种应用领域复杂纳米表层分析,包括半导体属性定性和聚合链调查

主要特征包括:

• 实时三维多通道图像加叠
• 使用ISO25178标准定义的最新三维参数描述表层纹理
• 纳米尺度上最新几何和形态分析,包括粒子和图案高度、表层结构量(脉冲、洞口)、阶梯高度等
• 强自动化功能要求应用包括临界维度统计
• 地表数据共定位化供相关分析使用,例如raman化学地图

ToscaTM分析软件可用11种语言使用,配有方便用户丝带接口和上下文标签并配有直观图标工具

交互工作流允许完全地表可追踪性并随时易微调

Excel、PDF和Word兼容RTF格式生成面分析报告从来不易自动化工具帮助加速制作(例如分析例程可存储成模板并重应用批量使用)

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