Bruker推出了两种新的仪器，进一步扩展了其电子显微镜中材料表征的高性能工具组合:

• XSense™是一种用于扫描电子显微镜(SEM)元素分析的新型平行光束波长色散x射线光谱仪(WDS)。专门为100到3600 eV之间的较低能量范围设计的XSense能谱仪的能量分辨率可达4ev，既能分离距离近的x射线线，又能进行高灵敏度的微量元素检测。
• XTrace™是一种新的微点x射线源，可与Bruker的能量色散x射线光谱仪(EDS)探测器结合，在SEM系统上实现光子诱导微x射线荧光(micro- xrf)光谱分析。与常用的电子激发x射线能谱法在sem上进行元素分析相比，micro-XRF能谱法的检测下限低20 - 50倍，特别是在光谱的中高能量范围内，增加了对样品中痕量高z元素的检测和分析能力。

新XSenseWDS分析仪采用特殊的x射线反射镜光学，用于高效的大角度x射线收集和并行化。全电动三轴自动对准系统，确保快速，再现和稳定的焦点定位。平行光束光学系统是完全可伸缩的，由非磁性材料制成，以避免光束偏移和图像失真。有六种衍射晶体可供选择，XSense可以调整为几乎任何应用程序提供最佳条件。其先进的运动学保持了活性晶体相对于x射线束的最佳定位，在整个扫描范围内获得最大的衍射效率。另外，在晶体和探测器之间的二次x射线光学进一步提高了峰背景比和灵敏度XSense改进算法。Bruker独特的探测器管理系统主动控制比例计数器的内部气体压力，并自动执行所有高压和鉴别器设置。

当连接到扫描电镜样品室的适当端口时，新的XTrace使用低功率的微聚焦x射线管和聚焦的多毛细管x射线光学系统产生高强度的x射线束，用于光斑尺寸小于40微米的样品辐照。由于聚焦光斑与扫描电镜的电子束在同一位置撞击样品表面，分析人员可以从同一样品区域交替获得电子诱导和光子诱导x射线荧光光谱。

而电子诱导x射线能谱提供高空间分辨率和优良的光元素探测，光子激发与XTrace灵敏度高，可检测微量元素至10ppm水平。结合这两种技术所获得的信息可以大大提高分析结果的准确性。

这两个XSenseWDS分析器和XTracemicrox -ay源通过ESPRIT 2.0进行操作，ESPRIT 2.0是Bruker全新独特的四合一分析软件套件，在单一用户界面下无缝集成了EDS、WDS、EBSD和micro - xrf。ESPRIT 2.0不仅支持所有四种互补方法之间的直观导航，而且还提供了组合数据以获得更高精度定量结果的各种可能性。

布鲁克纳米分析部门总裁Thomas Schülein表示:“随着这些令人兴奋的新产品的推出，我们现在为客户提供了前所未有的选择，以显著提高他们的电子显微镜的分析能力。作为我们QUANTAX系统用于微观和纳米分析的组成部分，这两种新工具的设计目的是提高分析SEM在全能谱范围内的特异性和灵敏度。的XSenseWDS致力于低能量、轻元素领域和XTrace特别适合揭示中高能量范围内的额外分析信息。我们很自豪，Bruker现在是唯一提供所有五种技术的供应商，EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF和Micro-CT，作为电子显微镜的高性能附加分析仪。由于在我们新的ESPRIT 2.0软件套件下的完全集成，研究人员现在可以结合和集成通过这些互补方法获得的数据。因此，我们的QUANTAX系统现在已经发展成为电子显微镜上综合材料表征的一个真正的多模态分析工具集。”

关于力量的公司

布鲁克公司(纳斯达克代码:BRKR)是一家为分子和材料研究、工业、诊断和应用分析提供高性能科学仪器和解决方案的领先供应商。欲了解更多信息，请访问www.bruker.com。

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