泰斯塔分析解决方案公司已将AYE差示折射仪添加到其现有的高性能色谱测量仪器系列中。

AYE是一种灵活的微分折光仪，可以在静态或动态模式下使用。在静态模式下，溶解样品的比折射率增量(dn/dc)可以在短短几分钟内轻松精确地测定出来。比折射率增量是静态光散射(SLS)探测器测定绝对分子量所需的关键参数。这是因为在dn/dc的测定中相对较小的误差将导致计算分子量的误差翻倍。确定与SLS探测器激光器相同波长的dn/dc值也很重要，否则将引入进一步的误差，因为dn/dc与波长有很强的依赖性。

AYE差分折射仪提供了大量的波长选项，可以精确匹配SLS探测器的激光工作波长，从而确保每次都能获得可靠和可重复的结果。

当样品的dn/dc值已知时，AYE差分折光仪可用于精确和灵敏的浓度测定。用于此的样品数量也可以很容易地回收，因此用于进一步的调查。

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