来自马尔文仪器的专家将在2013年Pittcon上介绍颗粒尺寸分析基础课程
来自Malvern仪器公司的专家，一家以光散射技术闻名的公司，将在2013年的Pittcon上提供为期一天的课程，题为“粒径分析的基础与光散射技术”
该课程将由应用程序经理Alan Rawle博士和GPC/SEC美洲产品经理Ulf Nobbmann博士于2013年3月19日上午8:30授课。
这个有价值的短期课程将介绍粒度分析的基础知识给那些新的领域。重点将是激光衍射和动态光散射(DLS)的要点，但其他技术，如筛分，沉降和静电区计数也将被覆盖。当天的会议将以问答环节结束，与会者可以与主讲人讨论他们的问题，包括从一种粒子大小测定技术切换到另一种的任何问题。
本课程适用于粒度分析的相对新手，以及需要进一步背景知识的经验丰富者。实验室人员、科学家和研究生都有可能从这些内容中受益，并有机会与该领域的领先专家进行互动。
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