纳米晶体长度和厚度的快速测量
出版时间:2018年9月25日
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作者/来源:爆后新星分析GmbH是一家
爆后新星分析报告了不对称流场流分选耦合多角度光散射(AF4-MALS)如何在短短40分钟的分析时间内成功地用于表征多分散纤维素纳米晶体的大小和厚度。
由于纳米晶体在先进材料、生物医学、环境、光学和半导体等领域的应用日益广泛,近年来纳米晶体的研究已成为一个重要的研究领域。这些纳米晶体的详细尺寸表征是重要的,因为它们的流变学和控制加工性能可以受其尺寸、形状和表面积的影响。
这项新研究的作者提出AF4-MALS作为一种替代体表征技术,如透射电子显微镜(TEM),原子力显微镜(AFM)和动态光散射(DLS)。AF4-MALS相对于本体表征技术的主要优点是高分辨率和快速分析时间。
由于具有低热膨胀、光学透明度、可再生性、生物降解性、低毒和低成本等诱人的特性,纤维素纳米晶体被广泛应用于工业领域。在这项研究中,从亚硫酸盐针叶纸浆中分离的纤维素纳米晶体样品,用AF4-MALS分析,以测量晶体的长度和厚度作为尺寸的函数。纤维素纳米晶长度分布与AFM分析结果吻合较好。用AF4测得的纤维素纳米晶Rh和MALS测得的rms半径计算纤维素纳米晶厚度。纤维素纳米晶体的厚度分布分布广泛,表明单晶聚集在较大的分布末端。