HORIBA CLUE系列提供了一个可扩展的平台，用于扫描电镜和双SEM/FIB(聚焦离子束)显微镜的纳米物体的成像和光谱分析。

HORIBA科学，光谱分析领域的全球领导者超过40年，自豪地宣布新的HORIBACLUE系列探测器扫描电子显微镜(SEM)。

堀吧线索系列包括:

• i-CLUE大视场椭球收集镜快速阴极发光(CL)成像系统。i-CLUE是市场上独一无二的，可现场升级为完整的光谱解决方案，以合理的价格为分析科学家提供了高灵敏度CL检测的第一步。
• F-CLUE坚固的成像和高光谱CL解决方案是现有配置的简单升级。其内部(完全可伸缩的镜集)和外部标本室的超紧凑设计和光纤耦合光谱仪适合每一个拥有自由水平端口显微镜的客户。
• H-CLUE成像和高光谱CL溶液结合了高质量的抛物面镜，用于DUV-VIS-NIR，直接光学耦合和高分辨率光谱仪，具有市场上最好的性能。
• R-CLUE结合了HORIBA在阴极发光、拉曼光谱和光致发光方面的专业知识，在一个紧凑的光纤耦合溶液中。

SEM-CL有助于在纳米尺度(<20nm空间分辨率)发现缺陷、结构、应力的本质，使其成为新型纳米材料表征的理想工具。设计用于增强锆石，荧光粉和其他矿物对半导体氮化物，薄膜太阳能电池和2D材料的多种应用的灵活性，HORIBA CLUE系列为您感兴趣的样品提供最终的灵敏度。

HORIBA Scientific在光学，探测器，真空技术和光谱方面的专业知识为每个客户提供准确的硬件和软件信息，无论您的样品类型。HORIBA CLUE系列已经部署在国际公认的学术和行业研究和世界各地的质量控制实验室。

HORIBA CLUE系列提供现场安装和培训，技术支持和应用支持，帮助优化您的实验。

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