温度控制显微镜市场领袖Linkam科学工具报告皇家墨尔本理工大学研究员Sharath Sriram博士的工作

功能材料微系统研究组由精通薄膜合成、微构件和材料特征化的研究人员组成博士后研究员 博士沙拉斯里拉姆关键研究者Group精通复杂薄膜电子应用特征

Sriram博士研究派电薄膜特征后,从Linkam选择温度控制级与Renishaw并用 inViaRaman显微镜Sriram博士评论道,“Linkam级精密控制温度和斜坡率并方便地与微射线分光计相联,使这些实验得以实现”。

Group的主要工作领域是调查薄膜派生电中Curie点变换反插晶状薄膜用于本研究高性能电电电电电铁材料多工用电压传感器ishaw inVia微光机系统安装CCD摄像头并长聚焦50x目标,PSZT薄膜加热到350C并10°C/min冷却Linkam HFS91-PB4级并实时收集Raman光谱agon514nm激光使用引力源和1800线/mm线标定约1cm光谱分辨率 ^-1实现。数据平均超过10累积20秒

使研究者能判定胶片两大拉曼峰值室温为~575cm-1和~744cm-1受控热冷薄膜在Curie点引起峰值和强度变化表示Curie点发生相位变化, 电影从robohedr转换成立方排列相片变换同时丧失电荷和结构受控冷却立方相逆返回Rhombohedal相位并带最小歇斯底里

控制式冷却可干扰变换,拉曼峰值位置和强度固定表示永久相位变化 材料保留 立方相位快速冷却可永久去除材料内电荷(在本案中PSZT)。

未来研究将利用Linkam级检测能力应用电偏差并研究拉曼频谱变化

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