新建表层成像计量软件基础

非接触3D测量检查全球领先者Nanosystem宣布发布NanoMap Alpha软件

NanoMap Alpha现已融入公司NV和NVM序列高精度3D光学测量系统,从而为分析半导体、PCB、显示器、工程部件、化学材料、光学部件等提供理想解决办法

NanoMap Alpha软件简单直观测量各种表层材料和参数

支持操作者、工程师和研究者全局地表测量并检验'Critophe Mignot表示,MountainsQQ技术再次强化它作为选择工具的地表成像分析

NanoMap Alpha特征要点包括

• 易用性:方便用户丝带接口和上下文标签带直观图标工具
• 生产率:快速易报告生成-分析例程可存储为模板并重应用批量
• 弹性度 :分析步可随时微调 所有依存步均自动重新计算
• 遵守ISO和国家标准曲面纹理分析 粗糙度分析 平面分析 粒子分析
• 面几何分析包括体积表层结构(泵、孔)、台阶高度、轮廓等
• 综合内置用户帮助-11语言软件可用化(EN、FR、DE、ESS、IT、PL、PT-BR、NC、JP、KR、RU)

更多数字冲浪