EM resolution，电子显微镜用户工具和附件的制造商和供应商，宣布EM- tec FIB栅格的可用性，提供了一种安全的方式，在使用FIB或SEM/FIB系统的提升过程中，将TEM薄片附加到立柱上。

新的EM- tec范围的FIB提升网格从EM分辨率提供了一种安全的方式来附加与聚焦离子束(FIB)仪器准备的TEM薄片。EM-Tec FIB网格可用于多种立柱配置，具有易于访问的优化形状，与所有标准3毫米TEM网格支架兼容。

EM-Tec FIB提升栅有三种类型:铜、钼和独特的光滑壁钼。铜FIB栅格提供在2,3或5后配置。对于具有挑战性的应用，需要高温或苛刻的处理，标准的钼EM-Tec FIB提升栅可作为2、3和4柱。钼FIB抬出栅固有地有一些侧面的粗糙度，在安装薄片之前需要宝贵的FIB时间来磨平。新的3后光滑壁的钼剥离网格节省了FIB上宝贵的时间，几乎消除或减少了之前平滑壁所需的时间。

每个EM-Tec吊出网格都有一个数字，对应于网格左侧蚀刻的柱的数量，用于方便地区分正面和背面。这是结合一系列独特的符号下，每个帖子，以快速和容易的识别。

更多关于em决议