新伊利诺斯大学使用AFM-IR系统纳米化分析出版物
Ansys工具报告最近伊利诺伊大学出版物描述开发基于AFM-IR的纳米尺度化学识别新技术论文《科学工具评论84》对工作作了描述
20多年来,研究者一直使用原子力显微镜测量和描述纳米尺度上的材料然而,迄今为止一般无法对材料化学和化学特性进行FM测量。
大学伊利诺斯分校研究人员报告,他们使用一种叫作原子力显微红外光谱学的新手法测量聚合纳米结构小至15纳米的化学特性文章“原子力显像红外摄像头15nm尺度聚合纳米结构”,出现在科学工具评审 84由美国物理学院出版
AFM-IR是测量纳米尺度红外吸收的新技术King Abel Bliss伊利诺伊机械科学工程系教授第一批AFM测量可测量纳米尺度结构的大小和形状多年以来,研究人员改进AFM测量纳米尺度机械属性和电气属性
红外吸收特性提供材料样本化学联结信息,这些红外吸收特性可用于识别材料,King加进,King也是伊利诺伊州Nanoscal化学电机制造系统中心主任聚合纳米结构小于先前测值
新的方法帮助研究分析AFM-IR系统内纳米级动态方式研究人员用波子变换分析AFM-IR动态,AFM-IR信号因时间和频率而异通过分离时间和频率组件,研究人员能够提高AFM-IR内噪声信号并从而测量比以前可能的要小得多样本
测量聚合纳米结构化学组成能力对各种应用非常重要,包括半导体、复合材料和医学诊断研究作者为Jonathan Felts、Hanna Cho、Min-Feng Yu、Lawrence Bergman、Alex Vakkis和William P金王文章在线发布