解决来自样本中最高成像分析需求

ZESS介绍新现场发射扫描电子显微镜ZESSGeminiSEM450工具将超高分辨率成像与性能先进分析并同时保持弹性和易用性综合

用户从高分辨率、表面敏感成像和光学系统获益,光学系统最理想地支持用户获取最佳分析结果-特别是在低电压工作时-高通量电子反射分解分析与低压X射线分光镜提供优异结果,因为ZESSGEMI Gemini450能力精确独立控制点尺寸和波束流Gemini2设计总有可能在优化条件下工作,用户可以在按钮触摸时无缝切换成像分析模式使ZEISSGeminiSEM450成为成像分析性能需求最高的理想平台

此外,ZEISSGeminiSEM450设计面向从经典传导金属到波束敏感聚合物等各种样本类型特别是ZESSGeminiSEM450变量压力技术减少非导样充电,同时不损及Inlens检测能力,并同时通过最小化短裙效果实现高分辨率EDS分析基于这一设计,ZESSGEMiniSEM450提供一种灵活工具,适合材料科学、工业实验室和生命科学的广泛应用

与ZESS GeminiSEM 450一起,我们引入一个新的FE-SEM龙头 实现最高性能解析和超高解析除产品发布外,我们还向ZESSGEMINSEM和ZESSSSSIGMsssGima家庭从高分辨率枪法推导中得益, 高分辨率枪法先前仅见ZessGemini数列中提供,Michael Albiez,ZEISS电子显微镜头

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