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下发激光反射粒子分析器可改进材料分析

发布日期 : 2018年4月23日
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作者/源码: 贝克曼库尔特欧洲/国际

LS13320XR


LS13320XR快速、精确和可复制粒子分析数据

贝克曼库尔特生命科学发射下一代激光分片粒子分析器LS13320XR满足制药和工业部门严格质量控制和研究应用上头LS13320XR快速、精确和可复制高分辨率测量分析,消除复杂程序搭建并缩短处理液或干样本所需时间

使用极度差分分布技术分析多波长和极分材料以提供高精度样本材料图片它可以检测多峰异样样本并测量最大范围粒子大小,从10纳米到3000微米不等

上头LS13320XR适合多种环境,从食品和饮料质量控制和工业制造到小分子和生物药理应用粒子特征营销主管Joe Dabbs Beckman Coulter生命科学解释道 :“不管环境如何,LS 13320XR向客户提供灵活强健性能,使人们对结果的精度和可复制性以及终端产品日常一致性有更大的信心。

新建工具确保临界质量控制标准实现,并设定粒子污染激光偏差分析新性能标准,同时提供效率更高、速度更快的工作流

LS13320XR内含127激光分片检测器分析大于0.4m粒子,并加六分小粒子分析多检测器帮助解决微小大小差异LS 13320XR提供快速无障碍数据分析


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