尼康LSI检验显微镜新序列EclipseL200N和L200ND现可用以EclipseL200和L200D序列高分辨率和精度为基础,L200N和L200ND提供更好的观察操作性能,为图像提供更高对比度和更高分辨率L200序列独立使用或与 wifer加载器合并使用时对rafers、phone掩码、retiles和其他子串进行异常精确光学检验

尼康原创CFI60光学提供图像光度通过高NAs和广采广度并存较长WD除光场、黑场、简单极化和DIC外,沉浸式光照器可实现上浮光度观察,包括L200ND中365nmUVexuce检验能力不断扩大,这对观察半导体阻抗残留物和有机电光显示器大有裨益。高强度12V-50W卤素光照比标准12V-100W光照一半电耗通过嵌入灯塔后向镜并优化灯丝大小,用户从学生平面有效统一照明中得益,光学系统关键静电卸载涂层应用到所有部件和控件中,以防样本受污染损害。

尼孔杰出专有技术确保EclipseL200N协同NWL200瓦法加载器安全可靠自动加载100米瓦法

主控件以工效设计为主,位于基地前端方便访问,允许舞台运动和聚焦在长时间观察时轻松最小疲劳倾斜三角眼机管可最优视层观察,确保自容视觉位置

快速易显微镜操作同时查看样本是可能的L200N序列便于精确聚焦低调样本,如裸丝虫,只需在光学路径插入聚焦目标即可最多六大目标可安装在强健机动鼻子机上,并会最小化图像移位甚至高放大度间移位

相机、外围机和显微镜控件都归并到NIS-E单元成像软件内,提供高质量高级图像采集、处理和分析易USB连接提供高速数据传输

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