Malvern仪器的粒子和分子表征焦点在Pittcon 2011上的短期课程
作为Pittcon 2011年既定计划的一部分（3月13日Th-18Th2011;亚特兰大GA）。其中的第一个在3月14日Th覆盖粒度的基本面，重点是光散射技术，第二次将于3月16日举行Th，通过动态光散射和ZETA电位检查分子和粒子表征。通过Pittcon网站为两者开放注册www.pittcon.org
“粒度分析的基本原理，重点是光散射技术”将使新移民进入粒度领域，从而达到粒度分析的基础知识的速度。主要技术（Sieves，沉积，电Zone感应）将覆盖着动态光散射和激光衍射。
‘通过动态光散射和ZETA电势通过分子和粒子表征将讨论，审查和提供动态光散射（DLS，PC，QELS），分子量和电泳光散射（ZETA电位）测量的有用技巧。
有关详细信息并注册访问：
粒度分析的基础知识，重点是光散射技术http://bit.ly/att7sw
DLS和Zeta电位的分子和粒子表征http://bit.ly/csriss
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