通过RETSCH Technology的新摄影机XT，可以大大改善尺寸在1 µm至3毫米之间的优质粉末的质量控制

对粒度和粒子形状的更精确，更快的分析有助于提高产品质量，降低拒绝并节省成本。

摄像机XT的设计基于已良好的光学粒子测量系统摄像机，但针对更精细的样品进行了优化。不仅改进了光学分辨率，而且还可以进行材料喂养的新选项，可扩展应用范围。细颗粒倾向于凝聚，这使得很难记录单个粒子的特性。因此，重要的是要有各种可能性将样品喂入分析区域，以便为每种材料找到所需的聚集物分散体与单个粒子的不希望破坏之间的最佳。摄像机XT提供了具有三种替代色散方法的模块化X变形系统：

可通过振动馈线喂入分析区域的可浇注，而不是团聚的颗粒（x-fall模块）。使用干燥分散单元（X-JET模块），可以加速粒子并通过可调节过压的喷嘴分散。最后，可以将颗粒分散在湿模块（X-Flow）中的液体中，可选地使用超声音。因此，可以为每种样本类型选择最佳方法。

好处：

• 根据ISO 13322-2的数字图像处理，具有专利的两摄像头系统
• 广泛的动态测量范围为1μm至3 mm
• 新开发的光学系统具有超强LED，可提供最高分辨率和极佳的清晰度深度
• 可靠检测最少数量的“尺寸过小”和“超大”
• 非常短的测量时间为1 - 3分钟
• 模块化系统X变化用于干燥和湿分散
• 如果需要，测量结果与筛分分析兼容100％

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