UCSB和Getty保护学院研究人员研究文化遗产跨段使用FM基础大规模光谱技术
发布日期 :
2015年2月4日
|
作者/源码:
解析工具
分析工具报告UCSB和Getty保护学院研究文化遗产画剖面
文化遗产材料分析提出了数大挑战,例如:有限和极小样本、样本结构复杂性、维护空间完整性的重要性,最突出的是样本稀疏性。这些限制对识别多传统有机染色物提出了具体挑战,特别是在可能有多原画层(取决于艺人技术)以及随后应用恢复或保护层的绘画方面。以高空间分辨率说明这些有机化合物的性质可能有助于澄清画历史的方方面面并可以帮助画保护 因为这些分子常易退化 从光或其它环境代理物因此,需要分析技术提供空间解析、分子分辨和清晰识别文化遗迹染料等有机化合物
质谱测量法是最常用化学定性技术之一,世界市场年均30多亿美元但由于空间分辨率目前限于20微米,因此受重大限制。Oak Ridge国家实验室研究者Gary Van Berkel博士开发的一个新的AFM技术使用AFM纳米热探针作为纳米铲热去热分光计加利福尼亚大学Mattanjah de Vries教授、Santa Barbara博士和Getty保护学院Catherine Schmidt Patterson博士最近开发了这一技术的变换,从MS阶梯分解AFM阶梯微小样本通过AFM热解吸器采集,随后分解分析2光子离子化并配有质谱法
使用AFM-MS技术,他们从模拟画取出红有机色素Alizarincrimson跨段纳米化构数据空间分辨率为750纳米,可以在薄画层内提取数个样本,同时保留大片剖面供进一步分析工作使用。Vries教授说道,“我们非常兴奋新AFM-MS技术使我们能够首次使用质谱学研究次微空间分辨率文化遗产材料化学期望它能广泛应用文化遗产和其他应用研究结果发布于2014年9月杂志分析法Anal.Methods,2014年6,8940一号.
引用
一号Anal市方法论2014年68940-8945DOI:10.1039/C4AY009C