电子显微镜使用者的工具和配件的决议，制造商和供应商，从布里斯托尔大学彼得马丁的研究报告。

他正在将Kleindiek微操纵器应用于日本核电站事故引起的材料的表征。

博士生彼得·马丁（Peter Martin）是布里斯托尔大学物理学院的成员。他的研究重点是日本的福岛Daiichi核电站（FDNPP）的2011年3月事件及其在仪表和微米尺度上的影响。他使用无人飞行器来研究污染的不断发展的分布，并使用新型的微分析技术分离并随后研究了从残废植物周围收集的辐射材料的微小片段。这对人类健康产生了潜在的影响，从短暂的放射性同位素到更长的寿命元素，可以很好地证明这一点。

当他和他的同事开始该项目并看待目前的工作状态周围的物料的研究，这显然是在缺乏辐射材料颗粒上进行的缺乏工作。在从空气采样过滤器收集的物料中只能在近几个地点靠近植物的材料进行少数研究。Bristol大学界面分析中心内的以前的工作广泛使用了Kleindiek MM3A-EM微操纵器（EM分辨率，剑桥，英国）进行一系列应用（TEM样品制备，原位力测量和基于电气探测的表征）。他们看到潜力在中心新的环境中应用显微镜知识和经验，从而实现更高效的样品制备和更高的材料吞吐量。通过在工作中使用微操纵器，它们只能去除感兴趣的粒子（在识别SEM下的材料）。以这种方式，除了具有用于进一步分析技术阵列的样本之外，它们还能够获得最准确的同位素分析结果（没有背景干扰）。微操纵器，例如安装在SEM内的Kleindiek MM3A-EM代表唯一遇到的亚纳米辐射粒子的唯一方法。

当被问及他选择的机械手时，马丁说：“Kleindiek MM3A微操纵器用于我们的其他应用以及上述”颗粒拣选“。Kleindiek系统的主要优点是它们在运行中的灵活性。与提供针针的方法的其他系统不同，Kleindiek平台可用于整个应用范围，并且不受限制为利基仪器。我们认为在学术界中对我们来说很重要，以将这些优势在各种应用中结合，潜力也进一步扩展。“

继续，马丁谈论使用的实验方法。“使用物体与操纵针之间的静电吸引力是”拾取“材料的常见方式。然而，为了确保这些高活性颗粒保持附着并且不会“脱落”代表大放射危害，使用Kleindiek Semglu非常重要。这种真空相容粘合剂的非常高的强度，其在电子束下方聚合意味着颗粒被充分地粘附到运输并在仍然附着在它们上进行的分析技术的范围内保持针尖处操纵针（钨或玻璃）。与Kleindiek系统一般来说，在“粒子拣选”之外的Semglu之外的其他用途已经在该组中探讨。“

这里描述的工作在Spectrochimica Acta Part B部分B：原子光谱中的开放式纸张中公布了：http://dx.doi.org/10.1016/j.sab.2015.12.010。

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