XEI科学公司热门EVACTRON^®de-ContadoraTM等离子扫荡系统电子显像机和其他吸尘机报告,最近宣布公司因创新TEMWandTM技术获得专利

1月8日^线程2013年是 XEI科学史上的重要一天8349125B2发布日期命名为“传输电子显微镜清除设备”。此处描述的设备为XEITEMWand正在用它消除TEMS采样介绍和极片区油气污染魔杖由安装在空棒上的等离子清洗装置组成,取代标本持有者并插入工具中仿佛交换样本等离子体由小空阴极生成空气或其他含氧混合物通过空棒接收等离子体等离子生成含氧气体氧基,分解碳氢污染物转换成小分子成分,这些成分很容易通过显微镜真空系统清除。TEMWand很容易附上显微镜清洗并移除当TEM用于成像或分析时

Ronald Vane在谈到专利、发明人和XEI总裁时表示,“设备最重要的特征是TEMWand直接将低功率等离子清洗带入TEM考试室并清除极片孔径它可以净化高压计和加锁区清除油类和其他污染因为它运行极低功率,TEM仅通过温柔化学检索净化,不会对极片或TEM其他敏感部分造成分层损耗通过清除污染,生成清晰清晰的纳米结构图像。”

专利奖励XEI科学主动研发除新建TEMWand外,公司对Evactron远程等离子体净化基础拥有三项专利另2项专利等待处理,另有数项专利正在准备中开发努力已反映在过去一年的若干新产品发布中,包括TEMWand

XEI增长策略继续增产核心产品销售量,为更多吸尘技术应用提供易用可靠清洁解决方案Vane及其团队期望引进由客户需求驱动研发程序开发的新产品

XEI使用电子显微镜、FIBs和其他真空采样室等仪表处理多环境的污染问题

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