蔡司推出了一种集成的解决方案，可在光学、电子和x射线显微镜中获取和分析多尺度和多模态图像

蔡司Atlas 5是一个强大的硬件和软件包，扩展了蔡司扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束SEM (FIB-SEM)的能力。蔡司Atlas 5简化了自动图像采集，并让用户受益于其高效导航和任何来源的图像相关性，包括光和x射线显微镜。

充分利用高通量和自动化大面积成像的优势，用户可以在数小时、甚至数天的时间内获得大量2D或3D纳米电子显微镜(EM)图像，无需操作人员监督。先进的预设和可定制协议允许产生一致和可重复的结果。

蔡司Atlas 5相关工作空间可以方便地将多个来源的图像汇集在一起:从样品的完整宏观视图放大到纳米级的细节。以样本为中心的工作空间允许用户构建一个无缝的多模态、多尺度的样本图像。

蔡司Atlas 5的新颖图形用户界面概念使其易于调查所有样品。用户根据实验的复杂性设计了精确定制的工作流程，无论这是一个简单的一步任务还是一个复合实验。复杂的工作流环境指导用户从设置自动获取到后期处理和定制导出，一直到分析。

蔡司Atlas 5的模块化结构允许用户根据他们在材料或生命科学应用中的日常任务进行定制。该软件包包含多个模块:高级工具包，3D断层扫描，阵列断层扫描或高级纳米模式和可视化引擎(NPVE Advanced)。

更多关于蔡司