Zeiss引入了Zeiss离子光束显微镜的新功能
Zeiss引入了Zeiss Ion Beam显微镜的新功能，涵盖了分析，断层扫描，样品制备和数据完整性方面的进步。
这为工程材料，能源材料，软材料和地球科学带来了新的可能性，涵盖了添加剂制造，电池和光伏研究，建筑材料和纳米材料中的大趋势。
分析
引入Zeiss Crossbeam家族的SIMS解决方案用于元素分析，为Zeiss离子束显微镜增添了显着的分析能力。这与新的飞行时间二次离子质谱法（TOF-SIMS）检测相辅相成，该检测为Zeiss Crossbeam家族的最新成员，Zeiss Crossbeam 350以及Zeiss Crossbeam 550。
断层扫描
作为引入新的聚焦离子光束扫描电子显微镜（FIB-SEM）的一部分，Zeiss Crossbeam 350，Zeiss引入了3D断层扫描的增强的工作流程，以确保类引导3D数据量的产生。Z-Slice厚度的量化和校准测量可以使整整图切片接近完美地重建为重建体积。Zeiss Atlas 5硬件和软件包的更新改进了3D分析（静态电子反向散射衍射（EBSD）），相关工作流程和切片厚度的定义。这种所谓的“真正的Z技术”可确保高质量的FIB-SEM层析成像。
样品制备
用于透射电子显微镜（TEM）的新装载站和样品持有者使TEM Lamella制备工作流程更容易使用，并确保样品平稳过渡到TEM以进行进一步分析。
数据的完整性
高速和高质量的数据采集进一步互补，Zeiss Zen Intellisis是一种基于机器学习的细分软件。Zeiss Crossbeam 3D数据集与这套图像处理和分割软件完全兼容。这可以确保数据完整性随着数据采集速度和质量的提高而维持。该软件提供的基于纹理的分类使先前隐藏的信息可以从纤维复合材料到储层岩石等样品中提取。
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