微量分片分析
发布日期 :
2021年4号
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作者/源码:
TESTA分析解决方案
新建Hkseries分片计从Testa分析解析e.K设置精确判定特定反射指数增量的基准-聚合物和蛋白分子权值使用光散技术的一个重要参数
具体的反射指数增量(dn/dc)是材料科学中最低估参数之一假设使用出版文献中多聚合物和蛋白质的近似值不会对光散实验判定的分子权值产生巨大影响,不论GPC/SEC分离与否是不正确的。dn/dc为Zimm方程Debye常量中的二乘法词,在判定dn/dc时发生差错都会导致在分子权重测定中引入大错除此以外,精确确定GPC/SEC应用中dn/dc极有用,可计算分离质量平衡,并因此确定列内是否吸收,再次对计算结果产生消极影响
Hkseriesdn/dc分片计是一个可静态或动态模式使用软性装置静态模式下溶解样本的具体折余索引(dn/dc)可轻而易举和精确地在几分钟内确定。新系统提供大量波长选项,精确匹配光散检测器操作波长,从而确保每次可靠和可复制结果
dc样本值已知时,HkSeriesdn/dc差分分分分解计可用于精确敏感集中度测定样本量也可以很容易回收并用于进一步调查
由数十年经验支持的Testa分析创建了一系列高性能GPC/SEC检测器、GPC/SEC泵、配件和软件产品可定制满足你的确切需求由知识型工工人员组成的团队 也可用讨论OEM需求 并提供无缝整合技术
关于Testa分析解决方案e.K
测试分析解决方案e.专为聚合物、粒子、纳米材料和蛋白质定性提供最佳工具解决方案利用30多年技术为这些市场服务的经验,Testa分析公司的工作人员乐于与全世界研究人员分享知识,帮助为甚至是最难应用提供工作解决方案