JEOL的一种新型扫描电子显微镜(SEM)满足了更快、更容易获取SEM图像和EDS数据分析的需求，特别适合重复操作和质量控制。

全球领先的材料表征和分析用尖端电子显微镜开发公司JEOL推出了最新的SEM JSM-IT510。这种新型扫描电子显微镜的特点是提高自动化生产力，包括“简单扫描电子显微镜”自动成像，自动蒙太格(图像和EDS图)和实时EDS分析(光谱和图)。

IT510是流行的JEOL IT500 InTouchScope SEM的继承者，具有大的样品室和钨或LaB6灯丝。IT510配备了JEOL智能技术，可实现从光学到SEM成像、Live EDS和3D分析的无缝导航，以及从对准到对焦的自动功能，以获得快速、清晰和锐利的图像。

新IT510的用户有几个提高生产力的新功能:

新的Simple SEM功能可以在样本的多个位置自动采集图像，并设置所需的各种条件，包括放大和设置。Simple SEM简化并自动化了日常任务的工作流程。

一个新的“Live 3D”功能在观测过程中构建样品表面的3D图像，实时显示表面形状和深度信息。

信号深度自动功能计算x射线产生深度，以支持在设定的条件下理解样品内的分析空间分辨率。在进行元素分析时很有用。

一种新的低真空混合二次电子探测器可以同时收集电子和光子信号，提供高信噪比和增强的地形信息的图像。该探测器还支持光子成像标本，给予阴极发光响应。

实时测绘与扫描电镜成像同时显示元素地图，这是由新的集成扫描电镜和能量色散x射线光谱仪(EDS)系统实现的。在SEM图像观察过程中，用户可以在实时地图视图和频谱视图之间无缝切换。然后，他们可以将感兴趣的元素映射覆盖在现场扫描电镜图像上，以增强对样品中元素分布的理解。

Zeromag软件可以从样本中更大范围的光学图像无缝导航到感兴趣的区域。用户永远不会迷路，可以轻松导航到所需的观测区域，只需单击光学图像。

JEOL IT510设计在一个紧凑的平台上使用先进的扫描电镜技术，具有前所未有的易用性。这种智能灵活，功能强大的扫描电子显微镜提供了最高水平的智能技术，内置自动化，为当今最通用的分析扫描电镜可用。

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