JEOL在M&M2023引入2台新扫描电子显微镜
简单SEM下级智能技术与显微镜自动化
JEOL本周在明尼阿波利斯M&M2023介绍两部新扫描电子显微镜新建SEM系统整合下一层次智能技术自动化以方便操作并快速高分辨率成像分析新一代SEM易于获取所有样本类型数据
新建SEMs特征为Semes自动收集多位图像、放大和条件、EDS实时分析、3D实战显微分析、ZeroMag软件自动大面积分析、大片Montage元件和快速清晰高分辨率图像自对齐自聚焦自动函数
新建JSM-IT710HRSEM简单多功能Schottky发布SEM提供大探针流同时维护小探针,使它最适合更高分辨率需求大样本室和高低真空操作允许以本地状态对各种样本类型进行图像分析
新建JSM-IT210内TouchScopeTMSEM压缩显微镜简单自动化工作流特征,包括Specimen交换模式引导新运算符逐步从采样介绍到理想成像分析条件
JEOL拥有全套扫描电子显微镜范围从广受欢迎的Neoscope桌面SEM到其旗舰超高分辨率现场发布SEMJEOL提供所有电子显微镜和科学器件的应用和服务支持,拥有70多年电子光学专业知识
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