JEOL是开发前沿电子显微镜材料定性分析的全球领先者,介绍最新的Energy分布分光度计Conce-X新建无窗口EDS满足高敏感度和低能X-Ray检测需求它可以收集从IT800系列FieldExmissionSEMs生成的整个EDS范围,包括低能X射线下至lithium

完全嵌入JEOL最新SEM中心软件实时分析并可以与标准JEOLEDS并发无窗新EDS将在M&M2022公司龙头SEMIT800上展示

集合-X,无窗口EDS JEOLIT800序列FESEM特性

• 提高特征X射线敏感度小于1keV并检测软X射线小于100eV(Li-K)独有电子陷阱设计可收集波束电压达30kV的整个EDS范围
• 赛道形状检测器允许在极短工作距离插入,同时保持大固角高效收集高空间分辨率EDS地图。 高计率允许快速采集时间,最小化敏感标本的潜在波束损伤
• 完全整合到新的SEM操作系统中,允许短工作距离安全操作高空间分辨率和超高分辨率SEM典型低能条件
  

JEOLIT800序列SEM加Cunce-X设计前所未有易用性高敏度和空间解析度。Cunce-X操作嵌入SEM中心软件实时EDS频谱显示或带SEM映射图中。高敏感度低能X射线观察实时完成。智能灵活扫描电波系统提供最高水平智能技术供当今最多功能高分辨率分析FESEM使用

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