TESCAN新自动检索器使高质量样本能够更快和一致地编译并用较少的人工品

escanOSAY持有宣布最新一代AutoslicerTM模块用于半导体故障分析与材料科学中非辅助半自动传输电子镜制备ga聚焦离子扫描电子镜和PlasmaFIB-SEM仪表,ESCAN自动扫描器使多点或多样高通量TEM样本编译并完全控制最佳采样质量所需的具体参数

自动化初始TEM样本编程速度处理时间,保证样本一致性并减轻对样本可能达不到后续成像分析质量要求的关切样本数逐日增加时,研究人员和工程师需要改进样本编程量,即使样本本身因小特征和持续缩接装置节点而变得更难编程

PlasmaFIB渐渐发展为薄样本编译技术, 因为 XePlasmaFIB编译hiTESCANGAFIB-SEM非辅助样本编译能力扩展至 Xe等离子FIB-SEM工具时,我们能够帮助用户进一步利用PlasmaFIB省时和样本质量优异性,样本编译速度更快,一致性更高,手工艺品少化少

TESCAN自动采集器自动化TEM样本编程中初始步骤:导航至感兴趣的区域、保护层沉降、战壕磨练、打磨和从沟沟中排出样本紧接这些初始准备步骤后,AutoSlier半自动化工作流引导用户提升并联通tEM网格用户开发自定义工作流和所有TESCAN软件模块一样,AutoSlicer完全整合到TESCANESSER用户界面内,因此很容易理解并操作,即使是那些没有广度样本编程经验的用户也是如此。

TESCAN自动检索器还可用于准备多样电子反射分片解析或其他分析或多点或多样FIB自自动化研磨自动检索器完全归并TESCANESSER系统用户界面内,TESCANAMBER和TESCANSOLARISGAFIB-Seet工具以及TESCANAMBERX和TESCANSOLARISXPLOSME工具可用

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关于TESCAN

TESCAN为地球科学、材料科学、生命科学和半导体产业内纳米级调查分析提供条件公司有30年历史开发创新电子显微镜、微量断层图解解码技术,并开发供全世界研究产业客户使用的相关软件解析法结果TESCAN在微和纳米技术中赢得领先地位

TESCAN ORSAY托管于2013年建立,原因是长期扩展并在世界各地建立子公司,包括法国ORSAY PHYSICS,TESCANORSAY托管公司在捷克共和国布尔诺维持其总部、制作和研发TESCAN显微镜都用布尔诺高超制作并运到世界客户