月度通讯

Deben是原位测试级的主要提供方,与电子显微镜创新附属件和组件一起报告AFSEM相关AFM&SEM系统及其容积级现场机械测试和测量

由GETec制造的Nanosurf和世界范围其他选择销售渠道销售

并发技术是获取微和纳米世界新洞察力的一个关键成功因素AFSEMT使用户很容易合并两种最强分析技术-AFM和SEM-以大大扩展它们的相关显微镜和分析可能性GETec显微镜GmbH开发AFSEMTM-高端原子显微镜新系统将SEM和AFM合并为一种工具,为用户提供独特的选择包括能力生成拉伸、缩放和电量测量,全靠纳米尺度

详细研究材料骨折表面常用以解决工程结构故障原因纳米尺度上,它是一个主要研究领域 素材科学开发与评价理论模型 裂变行为扫描电子显微镜(SEM)是研究面变和抗拉应力样本断裂机制的强工具大视场与纳米分辨率组合,可检测裂分或骨折形成初级阶段、样本变形、破解分析和其他表面缺陷,如粗糙度变化高度定量资料和裂缝剖析分空与SEM并发是不可能的

GETec选择 Deben微测试二百N抗拉级基于Deben多年向全世界电子显微镜用户提供相片的经验从2N到200N加载单元覆盖大多数应用,使用扩展速率从0.1/min到15mm/min级有线性延时测量和光编码器速度控制样本横向绑定双下巴并用不锈钢滑动轴支持双线程领头员逆向驱动下巴,保持样本居于视场选项包括三四点弯曲夹子、纤维夹子和显微镜安装适配器所有模块均受Deben微测试抗拉软件控制,特殊版本可按客户需求制作

微测试容积级与AFSEM相联提供样本容积属性相关原位分析AFSEM是一个小技巧扫描aFM,它不干扰抗拉级操作表示带样本的容积级可用交互方式存取,允许相向增加容积压力并连续分析,而无需排空SEM并取出每次AFM扫描分析样本

综合系统使用通过研究铜线得到了充分证明抗拉强度测量为线长度函数电线拉伸时,使用SEM和AFM记录表面粗糙图像图片附后

简言之,deben敏感级和AFSEMTM为用户提供获取最小表面变化详细相关信息的解决办法以及关于裂变或裂变增长、粗度增加或任何其他物变异等数量数据SEM允许引导AFM到感兴趣的区域,例如图像收缩或破解数不断增加,而抗拉级则提供受控应力应用

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