JEOL和数字冲浪伙伴启动SMILEVEW
发布日期 :
2018年6月18日
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作者/源码:
JEOLUSA公司
专为扫描电子显微镜用户设计
专为扫描电子显微镜用户设计领先高技术设备公司JEOL系统并数字冲浪高山表面图像分析技术创建者宣布发布SMILEVEWTM地图软件面向JEOL前沿扫描电子镜系统用户
新的发布对研究人员和工程师大有裨益,他们在各种应用领域工作,包括纳米技术、金属、半导体、陶瓷、医学和生物
SMILE VEWTM地图允许用户访问强力特征集,可视化分析并报告数据包括:
- 超快三维从一个或多个SEM图像重构表层
- 三维可视化度或角加表面计量
- 图像增强色化:从黑白到色化只需几下点击
- 表面粗糙度和纹理特征符合所有最新标准(ISO、JIS、ASME等)
- 易生成报表:将数据转换为精确视觉分析报表并以标准文件格式导出
- 直觉交互工作流增加吞吐量
SMILEVEWTM地图是一个高精度SEM数据成像分析计量工具新建软件将大大增强客户经验,为JEOLSEM世界社区提供广泛选择工具,全部归并成易用软件接口
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