Kleindiek Nanotechnik自强测量您的SEM/FIB易
发布日期 :
Jun 9, 2015
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作者/源码:
EM决议
Kleindiek Nanotechnik与EM解析公司合作,该公司以Sifron Walden为基础的耗品和配件提供电子显微镜服务,向英国研究圈提供并安装MM3A纳米机和强制测量系统
举例说,FMS-EM强度测量系统使伦敦帝国学院研究人员能够调查电化设备失效的根本原因,如燃料电池和电池等帝国学院也在开发纳米机器人和其他纳米结构时使用这些技术测试
FMS-EM是一个紧凑重读工具,允许在SEM/FIB内进行抗拉测量现有机械测试设备或具有必要的空间分辨率或强力分辨率,但很少同时使用MM3A-EM显微处理器使用高度敏感AFM小技巧克服这些限制威力测量小技巧可定位并高精度定位拟测量结构的确切兴趣区强制反馈显示在控制器上并配上扬声器,使用户能通过共振频率直觉描述材料和微机结构锐利硅小技巧还允许FMS-EM用于各种材料纳米缩进实验系统提供全力测量解决方案,包括数据采集软件、可视化软件和导出软件
Kleindiek Nanotechnik将参加mc2015站#605周二30线程6月12时30分,他们将组织一个讲习班,题目是微镜微管理:处理和描述纳米结构免费参加今年英国显微镜事件访问者受邀参加讲习班或刚到场见Kleindiek和EMOrjects的代表以见微操作器和纳米工具的令人振奋范围
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