月度通讯

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向SEM添加X射线检测器显然是提高执行样本微结构元素识别PhenomproX解析法再向上跨步并扩展易用性、速度和单系统解析域。PhenomproX中15kV电子波束为快速可靠的SEM成像生成反散电子并生成大片X光快速数据采集

Phenom教程的主要特征

• CeB6高亮度低加速电压高射电流高加速电压高射波
• 保证百科百科15小时(2至4年典型使用)
• 放大达45000x
• 快速无缝样本加载
  

PhenomproX兼容范围广的压缩样本持有者用于不同应用系统配有PhenomPro套件包,包括3D-Roughnity重构和Fietrict等不同软件特征

以市场领先Phenom ^TM桌面扫描电子显微镜Phenom-World帮助客户保持竞争力全Phenom桌面SEM系统直接访问各种应用中所需的高分辨率高质量成像分析它们是可负担得起、灵活快捷工具,使工程师、技师、研究人员和教育专业人员能够调查微子结构

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