反向工程聚合物使用纳米IR光谱
最近出版频谱欧洲金伯利ClarkCorporation主笔显示使用AFM纳米IR光谱处理聚合多层膜逆向工程
原子力显微镜(AFM)是一种相当常见的纳米级定性技术,但迄今为止它的主要缺陷是无法提供样本化学组成信息。通过AFM和可条形红外源集成,IR光谱可收集到纳米空间分辨率。多层胶片厚度持续缩放,AFM-IR为样本分析提供重要能力
主作者Kimberly ClarkCorporation的Tom Eby表示,“反向工程基于IR是大多数工业实验室的一个重要应用,AFM-IR技术空间分辨率突破现在使多类子微量特征材料实现此目标。'
论文标题 " 反向多层聚合法使用AFM纳米IR光谱分析论文编写者使用AFM-IR和纳米热分析组合获取红外光谱和跨段多层膜中每一层转换温度
详情请访问 www.anasysinstruments.com
关于Anasys工具
解析工具致力于提供新产品测量样本物性纳米化特征。 解析工具于2006年引入纳米化物学测试领域,先行纳米化物学测量领域2010年Anasys推出获奖突破NMER TM平台先行纳米级IR测量即2012年,Anasys为介绍破解LorentzForce感应技术感到自豪,该技术开创了宽带纳米光谱学领域
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主作者Kimberly ClarkCorporation的Tom Eby表示,“反向工程基于IR是大多数工业实验室的一个重要应用,AFM-IR技术空间分辨率突破现在使多类子微量特征材料实现此目标。'
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