月度通讯

JEOL开发出一个新的聚焦IonBem解决方案,用于在传输电显微镜观察前准备标本

新建JIB-PS500i多功能FIB-SEM提供快速样本编译、SEM成像和EDS分析单件协同

高质量快速TEM样本准备

新的FIB样本阶段快速转换处理和成像,允许实时反馈样本质量FIB-SEM制成样本适合高级原子解析成像和分析STEM可反射STEM检测器便于获取光场和黑场图像处理以精确评价TEM样本准备运算符很容易使用STEMPLing2自动TEM样本编译系统准备TEM样本,允许无人看守多样本编译

专用双平台样本持有器TEM-Linkage实现从FIB-SEM直接无缝传送TEM

新建大型机房/定时样本准备

JIB-PS500iFIB的密钥长处是大试样室和易入门设计支持高效工作流程和各种样本和过程的灵活性5轴全休克大型电机级设计向XY方向和广级倾斜旋转范围运输大型和多样本

新建FIB列低kV高流优性能

新建高流(最多100nA)FIB列对大面积处理和分析特别有效,这对半导体样本最理想新建FIB高性能精细磨机能力对高质hirkla编程成像、EDS分析以及3D显微镜都至关紧要新建JIB-PS500i高性能低kV范围,低至0.5kV,对波束敏感材料至关重要

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关于JEOL

JEOL是开发前沿电子显微镜以描述和分析材料的全球领先者核心产品组包括SEM、TEM和EPMA、IonBem磨合系统、E-Beam线程工具、Mass分光计、NMRs和ESRs和E-Beam三维打印机

JEOLUSA公司是JEOL有限公司独资子公司,1962年在美国注册

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