简单SEM下级智能技术与显微镜自动化JEOL本周在明尼阿波利斯M&M2023介绍两部新扫描电子显微镜新建SEM系统整合下一层次智能技术自动化以方便操作并快速高分辨率成像分析新一代SEM易于获取所有样本类型数据

JEOL开发出一个新的聚焦IonBem解决方案,用于在传输电显微镜观察前准备标本新建JIB-PS500i多功能FIB-SEM提供快速样本编译、SEM成像和EDS分析单件协同新建FIB样本阶段提供快速转换处理和成像,允许实时反馈标本质量

JEOL是开发前沿电子显微镜材料定性分析的全球领先者,介绍最新的Energy分布分光度计Conce-X新建无窗口EDS满足高敏感度和低能X-Ray检测需求它可以收集从IT800系列FieldExmissionSEMs生成的整个EDS范围,包括低能X射线下至lithium

JEOLUSA向2020电子显微镜比赛优胜者颁发2大奖,年度竞赛展示JEOL显微镜用户艺术或美学美景图像,配有良好的组成、敏锐焦点和技术能力,特别是在加速电压使用方面.

2020年夏启动新JEOL现场扫描电子显微镜包括虚拟演示其强性能直接面向市场中分析超高分辨率SEMJEOL新JSM-IT800全线显微镜超高空间分辨率成像分析

JEOLUSA开发工具推广科研技术的领先者,乐于展示Pittcon2020核心产品区最新更新JEOL拥有70年电子显微镜领域的专门知识,60多年质谱学和NMR光谱测量学,50多年电子波段平面演导JEOL扩展质谱仪生产线并开发GC三联四联质谱仪系统

JEOL引入一个新的FESEM产品线独有性能FEEM:NeEngine使用分析智能优化电子波束搭建嵌入式EDS现场分析实时成像和元素分析和Zeromag导航函数,无缝从光学成像向纳米级调查过渡 SEM高功率光学